Skip to content

Nabídka spolupráce

Měření vašich vzorků materiálů 

Vyvíjíte materiály s opticko-tepelnými funkčními vlastnostmi? Rozhodujete se, jaký materiál vybrat pro vaši aplikaci?

  • Můžeme vám provést analýzy vzorků vašich materiálů.
Přehled měřicích metod

Vývoj nových metod pro měření vašich vzorků 

Vyvíjíme další měřicí metody, které chceme využívat k měření vašich vzorků. Aktuálně se jedná o: 

  • měření spektrální propustnosti materiálů v závislosti na teplotě 
  • měření tepelné vodivosti tenkých vrstev 

Využili byste takový výsledek? Chtěli byste být součástí pilotního ověření? Upřesníte nám zadání výzkumu, aby výsledek lépe nalezl uplatnění?

Vývoj měřicích metod na míru pro vaše laboratoře

Chcete si opticko-tepelné vlastnosti materiálů analyzovat sami? Řešíte nové laboratorní uspořádání?

Přemýšlíte, jak ohřívat vzorky a měřit jejich teplotu?

  • Můžeme vám poradit nebo dodat celé technické řešení.

Oslovte nás a domluvíme detaily spolupráce!

    Naše řešení

    Naše měřicí metody využívají infračervené záření. Jsou založeny například na použití FTIR spektrometrů s detektory v oblasti UV-VIS-NIR. Jednotlivé metody jsou realizovány buď uvnitř, nebo vně vzorkového prostoru spektrometru. Zdrojem záření jsou halogenové lampy nebo černá tělesa. Pro ohřev vzorků využíváme kontinuální lasery. Přesné stanovení teploty je založeno na využití termokamer a referečních termografických povlaků. Parametry měření a způsoby vyhodnocení jsou optimalizovány podle analyzovaných vzorků.

    Přehled měřicích metod

    Benefity našich metod

    • pro vrstvy a povlaky
      metody jsou navrženy pro měření povlaků a tenkých vrstev, počítají s charakteristikami jako propustnost záření nebo teplotní spád při ohřevu
    • stanovení absolutní hodnoty
      výstupem jsou absolutní hodnoty vlastností i u metod založených na porovnání s etalonem
    • stanovení nejistoty
      výsledek ve formě průběhu hodnoty příslušné veličiny doplněný o nejistotu měření
    • vzorky různých tvarů a velikostí
      možnost zvolit z několika variant a usnadnit tak přípravu vzorků
    • měření dle norem
      ASTM E1980 (výpočet SRI – Solar Reflectance Index), ASTM E903 (měření solární pohltivosti, odrazivosti a propustnosti), ASTM E408 (měření totální emisivity), ČSN EN 17502 (měření odrazivosti usní).

    Nejnovější publikace

    • Z. Veselý, P. Honnerová, M. Hruška, L. Nedvědová, M. Honner Analysis of laser surface absorptivity modification for selective laser hardening International Journal of Thermal Sciences, Vol. 200, 2024, 108982 https://doi.org/10.1016/j.ijthermalsci.2024.108982

    • A. Mackova, V. Havránek, R. Mikšová, S. Fernandes, J. Matejicek, H. Hadraba, M. Vilemová, M. O. Liedke, J. Martan, M. Vronka, P. Hausild, M. Butterling, P. Honnerová, A. G. Attalah And F. Lukac Radiation damage evolution in High Entropy Alloys (HEAs) caused by 3–5 MeV Au and 5 MeV Cu ions in a broad range of dpa in connection to mechanical properties and internal morphology Nuclear Materials and Energy, Vol. 37, 2023, 101510
      https://doi.org/10.1016/j.nme.2023.101510

    • A. Schmailzl, J. Käsbauer, J. Martan, P. Honnerová, F. Schäfer, M. Fichtl, T. Lehrer , J. Tesař, M. Honner, S. Hierl Measurement of core temperature through semitransparent polyamide 6 using scanner/integrated pyrometer in laser welding International Journal of Heat and Mass Transfer, Vol. 146, 2020, 118814, 2020 https://doi.org/10.1016/j.ijheatmasstransfer.2019.118814

    • J. Martan, J. Tesař, M. Kučera, P. Honnerová, M. Benešová, M. Honner Analysis of short wavelength infrared radiation during laser welding of plastics Applied Optics Vol. 57, 2018, D145 https://doi.org/10.1364/AO.57.00D145

    • P. Honnerová, J. Martan, Z. Veselý, M. Honner Method for emissivity measurement of semitransparent coatings at ambient temperature. Scientific Reports, Vol. 7, 2017, 1386 (14 pp)

    • P. Honnerová, J. Martan, M. Honner Uncertainty determination in high-temperature spectral emissivity measurement method of coatings Applied Thermal Engineering, Vol. 124, 2017, pp. 261-270 

    • Moskal D., Martan J., Lang J., Švantner M., Skála J., Tesař J. Theory and verification of a method for parameter-free laser-flash diffusivity measurement of a single-side object Int. J. Heat Mass Transf., vol. 102, pp. 574–584, 2016.

    • P. Honnerová, Z. Veselý, M. Honner Experimental mathematical model as a generalization of sensitivity analysis of high temperature spectral emissivity measurement method Measurement, Vol. 90, 2016, pp. 475-482

    • M. Honner, P. Honnerová, M. Kučera, J. Martan Laser scanning heating method for high-temperature spectral emissivity analyses Applied Thermal Engineering, Vol. 94, 2016, pp. 76-81

    Reference

    Schunk Xycarb Ceramics bv, Netherlands

    Analýza emisivity povlaků za vysokých teplot.

    Aremco, USA

    Analýza optických vlastností povlaků za vysoké a pokojové teploty.

    Škoda auto Mladá Boleslav, ČR

    Analýza tepelné vodivosti objemových materiálů.

    AVČR, Ústav jaderné fyziky, ČR

    Analýza tepelné vodivosti povrchu materiálů.

    Lasselsberger, s.r.o., ČR

    Frentech Aerospace s.r.o., ČR

    Kingspan a.s., ČR

    Vybrané disertační práce

    • Petra Vacíková – Měření spektrální emisivity vysokoteplotních povlaků, školitel Doc. Ing. Milan Honner, Ph.D. (obhájila 2013)
    • Vladislav Lang – Teplotní závislosti fyzikálních vlastností monolitních a strukturovaných materiálů, školitel Prof. Ing. Josef Kuneš, DrSc. (obhájil 2007)
    • Jiří Martan – Thermo-kinetic model of laser-material interaction in the form of criteria equations, školitel Prof. Ing. Josef Kuneš, DrSc. (obhájil 2006)

    Vybrané patenty

    • Washable high-emissivity color for non-contact measurement of object temperature by detection of infrared radiation and usage procedure of the color  (CZ: Smývatelná emisivní barva pro bezkontaktní měření teplot objektů detekcí infračerveného záření a postup použití této barvy).  Utility model with patent application – national; app. no. 2015-661; doc. No. 307047, reg. date 24.09.2015; Owner: Západočeská univerzita, Plzeň, CZ; Authors: Michal Švantner
    • Měření plošného rozložení emisivity povrchu materiálu (podáno CZ a PTC)
    • Způsob měření totální emisivity povrchů materiálů, typ: národní, přihláška: 2012-175, číslo dokumentu: 306316, datum přihlášení: 13.3.2012, datum zveřejnění: 25.9.2013, datum udělení patentu: 19.10.2016, datum publikace patentu: 30.11.2016, vlastník: Západočeská univerzita v Plzni, původci: Milan Honner, Zdeněk Veselý.

    Náš příběh

    Před dvaceti lety nás požadavky na znalost emisivity pro naše aplikace bezkontaktního měření teplot vedly k sestavení první jednoduché metody s topnou deskou, termočlánkem a termokamerou. Teď je oblast měření opticko-tepelných vlastností materiálů u nás jednou z hlavních činností. V rámci projektů vyvíjíme nové metody a měříme vzorky materiálů pro zákazníky z celého světa.

    Použití vyvinutých metod měření emisivity vedlo k vývoji termografických barev LabIR. Naše metody jsme dále vyvíjeli pro měření povlaků používaných za vysokých teplot v různých energetických zařízeních. Naše další aplikace se týkaly materiálů vystavených slunečnímu ohřevu zejména ve stavebnictví. V současnosti chceme naše zkušenosti využít pro analýzy nových materiálů pro koncentrátorové solární elektrárny.